產品時間:2025-05-12
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該量儀屬于比對法測量,可快速高效測量孔內幾何形狀,自定中心,應用范圍廣,操作簡單精度高,結構牢固長壽命,不會劃傷工件
DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計,了測量結果的可能性,解決了孔徑測量的對中難題,限度減少了人為因素測量結果的影響,可方便、快速、得出測量結果。
測頭為非標定制,按圖紙及使用要求加工制作!

測頭結構  | 
  | 測頭參數  | 
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1、手柄  | 測頭形式:標準孔  | ||
2、顯示裝置  | 測量范圍:+0.2mm  | ||
3、測針  | 重復精度:0.001mm  | ||
4、導向體  | 線性誤差:1%測量行程  | ||
5、兩瓣體  | 測點半徑:4.5mm  | ||
6、測點  | 測頭壽命:可達100萬次  | 










導向體根據被測工件制定是BMD測頭的精度來源。

測量結果可靠不受人為因素影響

可提供刻字服務如客戶的特定ID號、公差等
